FIB聚焦离子束检测机构，聚焦离子束扫描电镜检测

聚焦离子束（简称FIB）是一种利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的显微切割仪器。

FIB聚焦离子束检测项目

聚焦离子束FIB检测、双束聚焦离子束FIB-SEM切片测试、聚焦离子束扫描电镜检测、常规检测、第三方检测、现场检测等。（具体以客户实际情况为准）

FIB聚焦离子束检测范围

薄膜、涂层、粉末大颗粒、块体等。

FIB聚焦离子束检测标准（部分）

1、 JY/T 0583-2020 聚焦离子束系统分析方法通则

2、 ISO/CD 17297 微束分析“聚焦离子束在 TEM 样品制备中的应用”词汇

3、 24/30465997 DC 微束分析 用于 TEM 样品制备的聚焦离子束应用 词汇

4、 SY/T 7410.2-2020 岩石三维孔隙结构测定方法 第2部分：聚焦离子束切片法

5、 T/BSPT 002-2018 微纳加工 离子束辐照应变诱导三维纳米结构与器件的加工方法

6、 GB/T 42106-2022 纳米技术 三维纳米结构与器件的加工方法 离子束辐照诱导应变法

7、 DIN 32533:2015 焊接 材料加工的电子束程序 束参数产品 束焦点直径和发散角的测量

什么是第三方检测报告？

第三方检测报告是由独立的第三方检测机构或实验室基于特定的标准、规范或要求进行测试和评估，所提供的有关评估和测试结果的正式文件。

这些机构与被测试实体（如生产商、供应商或组织等）没有利益关系，有相对的独立性和公正性，有资格向社会出公正数据(检验报告)，可以提供客观、公正的评估。旨在确保产品、材料或系统的质量、安全性、合规性等方面的要求得到满足。

以上是有关FIB聚焦离子束检测的相关介绍，上海复达检测机构有CMA、CNAS等资质，专注分析、检测、测试、鉴定、研发五大服务领域。服务面向全国，上海、北京、天津、沈阳、济南、南京、苏州、杭州、合肥、郑州、武汉、长沙、广州、深圳、成都、西安等地区均设有分部。