碳化硅衬底检测机构，碳化硅单晶片元素含量测定

碳化硅单晶衬底材料（SiC衬底）是一种属于宽禁带半导体的晶体材料，具备耐高压、耐高温、高频、低损耗等优势，为制备大功率电力电子器件和微波射频器件提供基础性材料。

碳化硅衬底检测项目

外观质量、厚度检测、化学性能、导热系数、晶向检测、全氧含量检测、电阻率、热膨胀系数、耐磨性能、耐高压、耐高温、耐火性能、耐热震性能、SEM表征分析、第三方检测、现场检测等。（具体以客户实际情况为准）

碳化硅衬底检测范围

碳化硅单晶衬底材料、碳化硅衬底、导电型碳化硅衬底、半绝缘型碳化硅衬底、碳化硅单晶抛光片等。

碳化硅衬底检测标准（部分）

1、 T/CASAS 004.1-2018 4H碳化硅衬底及外延层缺陷术语

2、 T/CASAS 004.2-2018 4H碳化硅衬底及外延层缺陷图谱

3、 T/CASAS 025-2023 8英寸碳化硅衬底片基准标记及尺寸

4、 T/CASAS 014-2021 碳化硅衬底基平面弯曲的测定 高分辨X射线衍射法

5、 BS IEC 63229:2021 半导体器件 碳化硅衬底氮化镓外延膜缺陷分类

6、 IEC 63229:2021 半导体器件.碳化硅衬底上氮化镓外延膜缺陷的分类

7、 SJ/T 11864-2022 半绝缘型碳化硅单晶衬底

什么是第三方检测报告？

第三方检测报告是由独立的第三方检测机构或实验室基于特定的标准、规范或要求进行测试和评估，所提供的有关评估和测试结果的正式文件。

这些机构与被测试实体（如生产商、供应商或组织等）没有利益关系，有相对的独立性和公正性，有资格向社会出公正数据(检验报告)，可以提供客观、公正的评估。旨在确保产品、材料或系统的质量、安全性、合规性等方面的要求得到满足。

以上是有关碳化硅衬底检测的相关介绍，上海复达检测机构有CMA、CNAS等资质，专注分析、检测、测试、鉴定、研发五大服务领域。服务面向全国，上海、北京、天津、沈阳、济南、南京、苏州、杭州、合肥、郑州、武汉、长沙、广州、深圳、成都、西安等地区均设有分部。