半导体膜检测机构，半导体材料电阻率测试

半导体膜是指由半导体材料形成的薄膜。通常将禁带宽度小于2eV的材料称为半导体。随着禁带宽度不同在室温下其电导率不同。

半导体膜检测项目

成分检测、含量检测、厚度、均匀性、晶体结构、表面形貌、电学性能、光学性能、电阻率、阻隔性能、可靠性、失效分析、无损检测、定性定量分析、材质鉴定、常规检测、第三方检测、现场检测等。（具体以客户实际情况为准）

半导体膜检测标准（部分）

1、 ASTM F673-90(1996)e1 用非接触涡流仪测定半导体膜片的电阻率的标准试验方法

2、 GB/T 6616-2023 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法

3、 JB/T 11623-2013 平面厚膜半导体气敏元件

4、 BS IEC 62951-7:2019 半导体器件 柔性和可拉伸半导体器件 表征柔性有机半导体薄膜封装阻隔性能的测试方法

5、 CSN 35 8971 Cast.1-1984 半导体设备．掩膜基件和掩膜 名称和定义

6、 IEC 62951-7:2019 半导体器件 柔性和可拉伸半导体器件 第7部分：表征柔性有机半导体薄膜封装阻隔性能的测试方法（1.0版）

7、 ASTM F1894-98 定量分析硅化钨半导体加工膜组分和厚度的标准试验方法

半导体膜检测范围

半导体加工膜、可拉伸半导体器件、介质薄膜检测、绝缘薄膜检测、钝化与保护薄膜检测、压电薄膜检测、铁电薄膜检测、光电薄膜检测、磁电薄膜检测、集成电路、微电子学、半导体分立器件、半导体材料等。

什么是第三方检测报告？

第三方检测报告是由立的第三方检测机构或实验室基于特定的标准、规范或要求进行测试和评估，所提供的有关评估和测试结果的正式文件。

这些机构与被测试实体（如生产商、供应商或组织等）没有利益关系，具有相对的独立性和公正性，有资格向社会出具公正数据(检验报告)，可以提供客观、公正的评估。旨在确保产品、材料或系统的质量、安全性、合规性等方面的要求得到满足。

上海复达检测是法定的第三方检测机构，具有CMA、CNAS等资质，专注分析、检测、测试、鉴定、研发五大服务领域。服务面向全国，上海、北京、天津、沈阳、济南、南京、苏州、杭州、合肥、郑州、武汉、长沙、广州、深圳、成都、西安等地区均设有分部。