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复合晶体管检测机构

更新时间
2024-11-23 15:00:00
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详细介绍

复合晶体管,指在IC中,常常把几个晶体管连接起来而构成具有一定功能的晶体管;在分析时一般是把它们当作一个整体来处理。


复合晶体管检测周期:7-10个工作日(参考周期、可加急)


复合晶体管检测范围


复合晶体管、光电复合晶体管、达林顿晶体管、CC-CE复合管、复合p-n-p晶体管等。


复合晶体管检测项目


外形和表面质量、尺寸、无损检测、失效分析、迁移率检测、工作电压检测、栅极漏电流检测、材质检测、质量检测、成分检测、密度检测、热稳定性检测、断裂强度检测、内衬塑结合强度、弯曲试验(DN≤50mm)、压扁试验、常规检测、第三方检测、现场检测等。(具体以客户实际情况为准)


复合晶体管检测标准(部分)


1、 EN 120003:1992 空白详细规范:光电晶体管、光电复合晶体管、光电晶体管阵列


2、 BS EN 120003:1986 电子元器件质量评定协调体系规范.空白详细规范.光电晶体管,光电复合晶体管,光电晶体管阵列


3、 NF C86-503:1986 半导体器件.电子元器件统一质量评审体系.光电晶体管、光电复合晶体管和光电半导体电路.空白详细规范CESS 20 003


4、 DLA SMD-5962-85508 REV C-2005 硅单块 多路复用器晶体管-晶体管逻辑电路双极数字微型电路


5、 UNE-EN 120003:1992 BDS:光电晶体管、光电卡林顿晶体管、光电晶体管阵列


6、 SIS SS CECC 20003-1988 空白详细规范:光电晶体管;光电晶体管达林顿电路晶体管;光电晶体管阵列


7、 DLA SMD-5962-87533 REV B-2001 硅单块 wanneng多路复用器,gaoji低功率肖特基晶体管晶体管逻辑,数字微型电路


8、 LST EN 120003-2001 空白详细规范 光电晶体管、光电达林顿晶体管、光电晶体管阵列


复合晶体管检测流程


1、联系客服、沟通检测需求;


2、根据实际情况确定样品递送流程、上门取样、送样、邮寄样品;


3、对样品进行初步、获取样品的特性以及相关指标;


4、根据客户的需求、根据检测经验及标准方法、定制试验方案;


5、进行试验、得到试验数据、出具测试报告;


6、完善的售后服务、可随时咨询;


上海复达检测是法定第三方检测机构、具有CMA、CNAS等资质,复合晶体管检测服务面向全国、包含上海、北京、天津、沈阳、济南、南京、苏州、杭州、宁波、合肥、郑州、武汉、长沙、广州、深圳、成都、西安等地区。


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