饱和失真,指的是晶体管因Q点过高,出现的失真。当Q点过高时,虽然基极动态电流为不失真的正弦波,但是由于输入信号正半周靠近峰值的某段时间内晶体管进入饱和区,导致集电极动态电流产生顶部失真,集电极电阻上的电压波形随之产生同样的失真。
饱和失真检测项目
失真分析、饱和失真、截止失真、衰减失真测试、第三方检测、现场检测等。(具体以客户实际情况为准)
饱和失真检测范围
晶体管、微电路、混合微型电路等。
饱和失真检测标准(部分)
1、 ITU-T R.11-1993 用器件失真术语计算电报电路失真度
2、 DLA DSCC-VID-V62/12629-2012 微电路,线性,低失真差分 ADC 驱动器,单片硅
3、 ITU-T Q.44-1989 衰减失真
4、 YD/T 552-1992 通信网中通路衰减失真测试方法
5、 DLA SMD-5962-91665 REV B-2000 操作放大器轻微失真宽带直线式混合微型电路
6、 LST EN 120003-2001 空白详细规范 光电晶体管、光电达林顿晶体管、光电晶体管阵列
7、 CNS 3997-1989 晶体管检验法
什么是第三方检测报告?
第三方检测报告是由独立的第三方检测机构或实验室基于特定的标准、规范或要求进行测试和评估,所提供的有关评估和测试结果的正式文件。
这些机构与被测试实体(如生产商、供应商或组织等)没有利益关系,有相对的独立性和公正性,有资格向社会出公正数据(检验报告),可以提供客观、公正的评估。旨在确保产品、材料或系统的质量、安全性、合规性等方面的要求得到满足。
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