四探针法常用于测量电池片的电阻率与方阻的juedui值，这是由于四探针法消除了探针和样品之间的接触电阻。

四探针测试检测项目

四探针测试、输入阻抗、输出阻抗、增益、带宽测试、电阻率、电导率、载流子浓度、常规检测、第三方检测、现场检测等。（具体以客户实际情况为准）

四探针测试检测范围

集成电路、半导体材料、晶圆片、薄层电阻、硅衬底片、研磨片、外延片,离子注入片、退火硅片、金属膜、涂层等。

四探针测试检测标准（部分）

1、 JJG 508-2004 四探针电阻率测试仪

2、 SJ/T 10315-1992 四探针探头通用技术条件

3、 JJG 508-1987 四探针电阻率测试仪检定规程

4、 GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法

5、 GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法

6、 DB32/T 4027-2021 石墨烯粉体电导率测定 动态四探针法

7、 DB13/T 5255-2020 石墨烯导电油墨方阻的测定 四探针法

什么是第三方检测报告？

第三方检测报告是由独立的第三方检测机构或实验室基于特定的标准、规范或要求进行测试和评估，所提供的有关评估和测试结果的正式文件。

这些机构与被测试实体（如生产商、供应商或组织等）没有利益关系，有相对的独立性和公正性，有资格向社会出公正数据(检验报告)，可以提供客观、公正的评估。旨在确保产品、材料或系统的质量、安全性、合规性等方面的要求得到满足。

以上是有关四探针测试检测的相关介绍，上海复达检测机构有CMA、CNAS等资质，专注分析、检测、测试、鉴定、研发五大服务领域。服务面向全国，上海、北京、天津、沈阳、济南、南京、苏州、杭州、合肥、郑州、武汉、长沙、广州、深圳、成都、西安等地区均设有分部。