锑化铟是一种具有较窄能隙的半导体，熔点低，易于加工。其晶体结构为面心立方晶系，具有较高的电子迁移率。

锑化铟检测项目

外观质量、材质鉴定、A和B原子面、位错密度、导电性、电阻率、抛光片厚度、晶面与定向、短轴尺寸、表面粗糙度、表面质量、载流子浓度、电阻率、霍耳系数、霍尔迁移率测试、常规检测、第三方检测等。（具体以客户实际情况为准）

锑化铟检测标准（部分）

1、 GJB 10342-2021 锑化铟单晶抛光片规范

2、 GB/T 11072-2009 锑化铟多晶、单晶及切割片

3、 SJ 20641-1997 红外探测器用锑化铟单晶规范

4、 SJ 20640-1997 红外探测器用锑化铟单晶片规范

5、 QJ 2462-1993 多元线列光伏锑化铟红外探测器技术条件

6、 GB 11297.7-1989 锑化铟单晶电阻率及霍尔系数的测试方法

7、 GJB 1206/2-1994 制冷光导锑化铟红外探测器组件详细规范

锑化铟的用途

锑化铟具有广泛的应用领域和潜在的用途，包括红外探测器和传感器、光电子器件、量子阱结构器件、红外光谱学、磁敏传感器和AlInSb HEMT等。

上海复达检测是法定的第三方检测机构，具有CMA、CNAS等资质，专注分析、检测、测试、鉴定、研发五大服务领域。服务面向全国，上海、北京、天津、沈阳、济南、南京、苏州、杭州、合肥、郑州、武汉、长沙、广州、深圳、成都、西安等地区均设有分部。